光谱干扰主要分为谱线干扰和背景干扰两种。主要来源于光源和原子化器。

一、谱线干扰和抑制

定义：

发射线的邻近线的干扰：指空心阴极灯的元素、杂质或载气元素的发射线与待测元素共振线的重叠干扰。

吸收线重叠的干扰：指试样中共存元素吸收线与待测元素共振线的重叠干扰。

抑制：

减小单色器的光谱通带宽度，提高仪器的分辨率，使元素的共振线与干扰谱线完全分开。或选择其它吸收线等方法抑制谱线干扰。

二、背景干扰和抑制：

定义：

背景干扰主要是指原子化过程中产生的分子吸收和固体微粒产生的光散射干扰效应。

抑制和消除：

(1)火焰：改变火焰类型、燃助比、调节火焰观测区高度。石墨炉：选用适当的基体改进剂。

(2)光谱背景的校正

A、用邻近非共振线校正背景

用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度，在分析线邻近选一条非共振线，此时测出的是背景吸收，两次测量值之差即为校正背景后的吸光度。这种校正方法准确度较差，只适用于分析线附近背景分布比较均匀的情况。

B、用连续光源校正背景

用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总吸光度再用氘灯(紫外区)或碘钨灯(可见区)在同一波长测定背景吸收，计算两次测定吸光度之差，即为校正背景后的吸光度。由于空心阴极灯与氘灯两种连续光源放电性质不同，能量分布不同，会导致背景校正不足或过度。

C、用塞曼效应校正背景

塞曼效应校正背景基于磁场将吸收线分裂为具有不同偏振方向的组分，利用这些分裂的偏振成分来区别被测元素和背景吸收。塞曼效应校正背景的准确度高，但仪器价格较贵。